歡迎咨詢本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術，不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；對樣品無破壞，可進行原位測試；，近年來，XAFS在國內外各大小課題組研究過程中有著越來越普及的趨勢，尤其是越來越多此前在XAFS表征方面沒有太多經驗的新用戶也逐漸通過多種渠道借力該技術進行深入的表征，提升研究檔次。

當體系存在N種元素時，就有N（N-1）種的組合，也就是這么多種類的偏函數，但我們只知道總結構因子，所以一個方程解三個未知數是不可能的，需要三個不同的實驗才能解出偏結構函數，當然，我們還可以利用異常X射線散射得到偏函數，基于此，美國阿貢guo家實驗室KarenMulfort等人利用高能X射線散射和原子對分布函數（HEXS/PDF）分析觀察雙金屬Cu/Ru/Os配合物在溶液相和固態構象的差異。

檢測精度同步輻射代算{工藝層層把關} 1. 離子濺射去除樣品表面層的時候，是對樣品表面一個特定區域進行濺射，還是同一次上樣的所有樣品都會被濺射到？ 答：是對一個區域，幾百微米到毫米級別。 2.C1s校正后，其他峰和標準峰峰位相差多少算合理？以及分峰的峰位相差在多少范圍內合理？ 答：有些峰會偏移的大一些，一般情況，峰位相差0.5eV以內，如果相差過大，需要考慮是否是校正存在問題。 3.峰擬合的時候，半高寬需要設置一樣嗎？ 答：一般情況，我們在初擬合的時候都是設置成一樣的，包括自旋軌道分裂峰，如果存在特殊情況，峰位相差較大，比如Ti2p、C=O是可以放開的，只要在0.7-2eV區間都是合理的。