X射線的英文簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文稱號為X-raypolycrystallinediffractometer簡寫仍為XPD或XRD。

原理：

x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體能夠作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線映照到物體上時，遭到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波相互干預，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上增強，在其他方向上削弱。剖析衍射結果，便可取得晶體構造。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見，隨即被實驗所證明。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發現的根底上，不只勝利的測定了NaCl，KCl等晶體構造，還提出了作為晶體衍射根底的著 名公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。

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關于晶體資料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，表現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。關于非晶體資料，由于其構造不存在晶體構造中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體資料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。　　

X射線衍射儀是應用衍射原理，準確測定物質的晶體構造，織構及應力，準確的停止物相剖析，定性剖析，定量剖析。普遍應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，資料消費等范疇。